nn1.n Nmateriały i metody Dna dokładne kompozycje chemiczne (w masie%) stopów Hastelloy NX z 0 i 0,12 jttriumnazywane są odpowiednio HX i HX są przedstawione w tabeli 1. Te dwie okazów zostały zbudowane w kształcie kostki 45 × 45 mm przy użyciu maszyny SLM EOS M290 (EOS, Robert Nstring 1, 82152, Krailling, Bawaria, Niemcy) w Ochronna atmosfera AR przy użyciu proszków przednalloyed i tych samych parametrów przetwarzania. Przeprowadziliśmy standardową obróbkę cieplną zarówno dla próbek HX, jak i HX. Rozwiązanie obróbki cieplnej (ST) przeprowadzono przy 1177 ° C przez 2 godziny, anastępnie chłodzenie powietrzem do temperatury pokojowej N N N N N N do testu pełzania, pokrojamy sześcian do wielu płyt o grubości 3,1 mm; Z tych płytek próbki testowe zostały wycięte przy użyciu maszyny do cięcia przewodów elektro. Wymiary miernika każdego okazu wynosiły 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Przeprowadziliśmy test pełzania poniżej 900 μC d80. Próbki zostały wypolerowane przy użyciu papieru SIC Emery do stopnia 1200n, anastępnie pastę diamentową do koloidalnej krzemionki (0,5 μm) za pomocą maszyny do polerowania automatycznego stresów (Ballerup, Danii). Wszystkie okazynastępnie przemyto etanolem w łaźni ultradźwiękowej przez 10 minut. Wytrawialiśmy próbki z 20% kwasem fosforowymn0% roztworu wodnego, aby obserwować granice stopionego basenu. Obserwacja mikroskopowa została przeprowadzona przy użyciu mikroskopu optycznego (OM; Olympus Corp. Tokio, Japonia), skanujący mikroskop elektronowy (SEM; Hitachi, Ltd., Tokio, Japonia), Energia Spektroskopia NDPERSIVE (EDS) (S N3700N Typ EDS Sprzęt produkowany przez Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Japonia) i mikroskopia elektronowa emisyjna w terenie (FE NSEM) (JSM

7100, Jeol, Tokio, Japonia) dołączony do EDS (EDAXAMETEX 9424). Image J Software (64 NBIT Java 1.8.0_172) zastosowano do analizy frakcji pęknięcia i pomiarów porowatościnnnn3.1 Obserwacjann3.1.1. N NA N NA N N N N Nowych 1 przedstawia HX i HX Mikrostruktury optycznena próbkina warunku NBUILT. Wszystkie zostały wyprodukowane przy użyciu tych samych parametrów przetwarzania. Próbka Na HX wystawiła więcej pęknięćniż HX (figura 1a), ponieważ próbka hxa zawierała dodatkowe elementy stopowe Yttrium (Y), których brakowało próbki HX. Godnym znacznym punktem jest to, że wszystkie pęknięcia były równoległe do kierunku budynku (BD) (rysunek 1b). Frakcje pęknięć dla próbek HX i HX są odpowiednio 1% i 5%. jako szaleństwo. Przyniższym powiększeniu wszystkie okazy wykazywały stopiony basen granice i struktury krzepnięcia, takie jak granice ziarna i dendryty (figura 2a, b dla HX i Figura 2C, D dla HX Na). Figura 2b pokazuje pęknięcia przy wyższym powiększeniu w próbce HX. W obu próbek pęknięcia powstały wzdłuż granicy ziarna i pojawiły się w regionach interdendrytycznych. Wykonano skanowanie mapowania EDSna pęknięć okazy HX i HX. Analiza EDS ujawniła sic carbides i formacja W6C w próbce HX (rysunek 3a). W próbce HXna próbki EDS w pęknięciu wykazywały tworzenie YC (rysunek 3b)n N N Z HX-NA WSZE PRÓBKA, Wskazujena istnienie małych cząstek tlenku Y (Yttria) i tlenku SI (krzemionki) wewnątrz ziarna. Dyfrakcja elektronowa (EBSD) Mapy orientacji krystalograficznej obu próbek w stanie NBUILT (Figura 5) wykazywali ziarna kolumnowe zorientowane prawie równolegle do kierunku budynku. W próbce HXniektóre ziarna są zorientowane w kierunku, aniektóre są w kierunku (rysunek 5a). Z drugiej strony ziaren w próbce HX sąnieco drobniejsze i głównie zorientowane w kierunku (rysunek 5b)nnnnnnnnnnnn N N N N N N N N N N N